Onto Innovation Inc. ONTO

Onto Innovation Inc. si impegna nella progettazione, sviluppo, produzione e supporto di strumenti di controllo del processo che svolgono l'ispezione e la metrologia macro-defetti negli Stati Uniti, Taiwan, Corea del Sud, Giappone, Cina, Asia del Sud-Est, Asia ed Europa. L'azienda offre sistemi di litografia e software analitico di controllo del processo; e sistemi di metrologia automatizzati e integrati, ispezione di wafer di silicio all-surface, ispezione macro difetto, classificazione automatizzata e analisi del modello, analisi del rendimento, metrologia di film opaco, affari 4D, litografia di imballaggio avanzato, software di controllo del processo e prodotti software di gestione del rendimento. Fornisce anche soluzioni di gestione dei processi e dei rendimenti, e impianti di confezionamento e test dei dispositivi attraverso sistemi standalone per metrologia ottica, ispezione macro-difetti, litografia di imballaggio e misure trasparenti e opache di film sottile. Inoltre, l'azienda offre un portafoglio di software di controllo del processo che include soluzioni per strumenti standalone, gruppi di strumenti e suite a livello di fabbrica. Inoltre, si impegna in sistemi e software, parti di ricambio e altri servizi, così come offre servizi di licenza software; e fornisce linee di prodotto avanzate, come FAaST, CnCV e MBIR. I prodotti dell'azienda sono utilizzati nei produttori di semiconduttori e di dispositivi di confezionamento avanzati; wafer di silicio; fabbricanti di circuiti integrati a semiconduttore; diodi a emissione leggera; laser a emissione di superficie a capacità verticale; sistemi microelettromeccanici; sensori di immagine CMOS; dispositivi di alimentazione semiconduttori di silicio e composti; dispositivi analogici; filtri RF; archiviazione dati; e varie applicazioni industriali e scientifiche. Onto Innovation Inc. è stata fondata nel 1940 e ha sede a Wilmington, Massachusetts.

Sede

16 Jonspin Road, Wilmington, MA, Stati Uniti

Amministratore delegato

Michael P. Plisinski

Wikipedia

inglese

Classificazione SEC (SIC)

3829 Measuring & Controlling Devices, NEC

Chiusura esercizio

26/12

Forma giuridica

Corporation

Paese di costituzione

Stati Uniti (US-DE)

Numero di iscrizione al registro

3913131

Costituita il

2005-01-18

Fonte

identità legale certificata da GLEIF (codice LEI 254900RXZVN73CHOO062), aggiornata al 2026-09-10

aggiornato al 01/11/2026 · fonti: sec (2026-10-31), yahoo (2026-10-25), wikidata (2026-11-01), translation (2026-08-20)